Die Materialanalyse schaut tief in das eigentliche Material hinein. Somit sollen fehler erkannt und abgestellt werden können. Die gesamte Analaysearbeit wird am Umwelt-Campus Birkenfeld von Prof. Dr. Stefan Trapp durchgeführt. Er ist seid Anfang an Leiter des Labors für Oberflächentechnik und kann somit auf eine langjährige Expertise im Bereich der Materialanalyse zurückgreifen.
Das Trennen mittels der Präzisionstrennmaschine dient zur Entnahme kleiner Proben aus einem großem Probenkörper.
Durch das ständige kühlen kombiniert mit dem osziellierenden Vorschub wird eine Überhitzung und Deformation des Gefüges vermieden.
Technische Daten:
ATM Brillant 250 Nasstrennschneider
Hier werden die Proben positioniert / fixiert und anschließend mit entsprechendem Pulver zu einer 40mm Probe gepresst. Somit werden die Proben für spätere Bearbeitungen besser handelbar.
Technische Daten:
Bühler SimpliMet 1000
Die erzeugten Proben müssen geschliffen und poliert werden, um die anschließend einer Gefügeanalyse unterziehen zu können.
Technische Daten:
Bühler Alpha Phoenix
Damit können micht metallische Oberflächen durch bedampfen mit Kohlenstoff leitfähig gemacht werden, um Analysen im Rasterelektronenmikroskop durchführen zu können. Des Weiteren können dadurch spezielle Materialanalysen durchgeführt werden.
Technische Daten:
Balzer Union CED 010
Es besteht die Möglichkeit Proben mit Gold zu besputtern, um Sie für die Rasterelektronenmikroskopie leitfähig zu machen.
Technische Daten:
Palaron Equipment SEM Coating E5100
Ein einfaches Mikroskop um sich einen ersten Überblick zu verschaffen. Hier können Preperationen der Proben mittels Pinzette und Skalpell durchgeführt werden.
Technische Daten:
Leica M80
Mit diesem Systemmikroskop lassen sich Hell-/Dunkelfeld Kontrastbilder aufnehmen. Dadurch können hier bereits erste Gefügeanalysen durchgeführt werden.
Technische Daten:
Olympus BX 40
Das Digitalmikroskop ist durch seine unterschiedlichen Objektive ein universell einsetzbares Mikroskop, mit dem einfache Sichtungen bis zu Gefügeanalysen durchgeführt werden können. Es besteht die Möglichkeit Vermessungen durchzuführen, was für detailierte Protokolierung unerlässlich ist.
Technische Daten:
Keyence VHX-700F
Das Rasterelektronenmikroskop zählt zu den hochauflösenden Mikroskopen die trotz großer Vergrößerungen eine hohe Tiefenschärfe besitzen. Mit diesem Mikroskop lassen sich Mikrostruktur- und Materialanalysen erstellen.
Technische Daten:
Joel JSM 6610 SE
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